HC89F0411P返回

概述

HC89F0411P是一颗采用高频低功耗CMOS工艺设计开发的增强型8位单片机,内部有12K Bytes FLASH程序存储器,256 Bytes IRAM和256 Bytes XRAM,6个双向I/O口,1个外设功能引脚全映射模块PTM,5个16位定时器/计数器,3组12位带死区控制互补PWM,1个8位PWM,2个UART,1个SPI,16个外部中断,6+2路12位ADC,四种系统工作模式(正常、低频、掉电和空闲)和16个中断源。

CPU 特性 增强型1T 8051内核
ROM 12K Bytes FLASH
IAP操作
灵活的代码保护模式
RAM 256 Bytes IRAM
256 Bytes XRAM
时钟 内部高精度32MHz RC
内部44KHz RC
多种时钟输出
多种复位方式 上电复位(POR)
多级低电压复位(BOR)4.2/3.9/3.6/3.0/2.6/2.4/2.0/1.8V
看门狗(WDT)复位
软件复位
堆栈溢出复位
I/O 6个双向I/O口
多种模式可配:输入、带上拉输入、带下拉输入、施密特输入、模拟输入、强推挽输出、开漏输出、开漏带上拉输出
外设功能脚全映射PTM
中断 16个中断源
4级中断优先级
6个外部中断
定时器/计数器 T0/T1兼容标准8051,16位自动重载
T3可以工作在掉电模式
T4可以使用外部信号触发定时
T5带捕获功能
PWM 最多3组12位带死区控制互补PWM
- 可配置为6路独立输出
- 可当定时器使用
- 具有故障检测功能
1路8位单输出PWM
通讯模块 2 个UART
1 个SPI
ADC 检测电路 支持6+2通道12位ADC检测
ADC参考电压可选内部Vref、外部Vref、VDD
具有省电唤醒功能(单通道)
低电压检测模块 VDD 多级电压检测,可中断4.2/3.9/3.6/3.0/2.6/2.4/2.0/1.9V
循环冗余校验(CRC)
省电模式 空闲模式
掉电模式
工作条件 宽电压2.0V-5.5V
温度范围-40°C-+85°C
文件名称
说明
HC89F0411P_Datasheet_Ver1.03_cn

HC89F0411P数据手册中文版 

工具名称
说明
HC-PM51 V5.0.5.0

HC Flash系列下载器 

HC-ISP V1.0.4.0

 

文档名称
说明
AN0104_Keil ASM&C混合编程

AN0104_Keil ASM&C混合编程_Ver1.00_cn 

UM0100_HCFlash MCU DEBoard使用说明_Ver1.00_cn

HC Flash系列MCU DEBoard使用说明 

AN0100_Flash产品IAP使用

AN0100_Flash产品IAP使用_Ver1.00_cn 

HC89F0431 Register Example V1.0.2.0

HC89F0431范例程序